USM 32X系列探傷儀GE*授權(quán)銷售
美國GE作為無損檢測行業(yè)的，GE檢測科技以技術(shù)為先導，為客戶提供高效、優(yōu)質(zhì)和安全的檢測解決方案。其檢測技術(shù)涵蓋膠片系統(tǒng)、超聲、渦流、X射線、計算機射線成像（CR），數(shù)字化射線成像（DR）和工業(yè)內(nèi)窺鏡等多個領(lǐng)域，對被檢測材料不會造成變形或損害，廣泛應用于航空航天、鋼鐵、電力、石油天然氣和汽車等行業(yè)。

USM 32X系列探傷儀GE*授權(quán)銷售

USM 32X系列探傷儀為GE檢測科技推出的一款功能實用*進，價格貼近中國用戶的通用型超聲波探傷儀。它秉承KrautKramer USM系列一貫精巧結(jié)實的設(shè)計風格和優(yōu)良可靠的內(nèi)在品質(zhì)，具有中文/英文操作界面，操作直觀簡便。彩色半跨距顯示技術(shù)使缺陷定位更容易。同時，創(chuàng)新采用大容量鋰聚合物安全電池，總重量僅1.8公斤。 根據(jù)IP54標準設(shè)計的防護

USM 32X系列探傷儀規(guī)格參數(shù)：
zui小范圍：0.2 （鋼）[inch]   0,5 （鋼）[mm]
材料聲速：0.039-0.590[inch/μs]    1000-15000[m/s]
測量分辨率：0,001[inch]    0,01[mm]
報經(jīng)：LED
數(shù)據(jù)集：100
數(shù)據(jù)存儲：傳送A掃描,測試報告,測量值,功能清單, PCX 或存儲A掃描實際設(shè)置
對話語言：20
接口：RS 232, 雙向
打印機驅(qū)動器：EPSON, Seiko DPU, HP DeskJet, HP LaserJet
電池：6.6 Ah內(nèi)置Li-Ion電池,或6 節(jié)C（二號）電池（AlMn, NiCd, NiMH）
電池使用時間：Li-Ion電池為14小時,NiMH電池為3小時
電源組/電池充電器：通過一個外接電源進行（100 –240 V AC, 50 –60 Hz）
顯示屏：帶背光TFT彩色液晶顯示屏
顯示屏大小, 寬x 高：4.6 x 3.4 inch] （116 x 87[mm]）
顯示屏分辨率：320 x 240[pixels]
A掃描大小, 寬x 高：4.6 x 3.2[inch]  116 x 80[mm]   320 x 220（變焦距）[pixels]
尺寸, 寬x 高x 厚：10 x 6.7 x 3.9[inch]  255 x 177 x 100[mm]
重量：5[lbs]  2,2kg]
運行溫度：2-115[°F]   0-60[°C]
環(huán)境要求：IP 66
標準：EN 12668-1

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